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低濕試驗(yàn)箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn); 是各類(lèi)電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備; 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。
超低濕試驗(yàn)箱除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗(yàn))..等,去檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變,以及針對(duì)產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上,據(jù)統(tǒng)計(jì),半導(dǎo)體破壞率:59%是由靜電所引起的。
恒溫恒濕低濕試驗(yàn)箱在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗(yàn))..等,去檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變,以及針對(duì)產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會(huì)發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上,據(jù)統(tǒng)計(jì),半導(dǎo)體破壞率:59%是由靜電所引起的。