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應力篩選試驗箱

應力篩選試驗箱

簡要描述:應力篩選試驗箱對不同電子構件,在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。

所屬分類:應力篩選試驗箱

更新時間:2024-05-21

廠商性質:生產(chǎn)廠家

詳情介紹
品牌SETH/賽思產(chǎn)地類別國產(chǎn)
應用領域能源,電子,航天,汽車,電氣

應力篩選試驗箱對不同電子構件,在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環(huán)境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)

應力篩選試驗箱特點:

1、可執(zhí)行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能;

2、可執(zhí)行慢速溫度循環(huán)[3~5℃/min]符合IEC60068-2、應力篩選ESS[5~15℃/min]符合JESD22、快速溫變[15~30℃/min](40℃/min)、冷熱沖擊四種不同設備的溫變試驗Laboratory Class;

3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求;

4、待測品自動負載調整免手動設定預冷預熱,可依據(jù)待測品負載量系統(tǒng)自動調整。

5、精靈快捷鍵 人性化快速進入選單高低溫常溫沖擊 ;

6、超低除霜次數(shù)    高低溫常溫沖擊(3 Zoon)100Cycle免除霜,縮短試驗時間與能耗。

7、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行;

8、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能;

9、感測器放置測試區(qū)出(回)風口賽思設計符合實驗有效性;

10、機臺多處報警監(jiān)測,配置無線遠程報警功能;

產(chǎn)品&規(guī)范

廠商名稱

高溫

低溫

溫變率

循環(huán)數(shù)

循環(huán)時間

備注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90電子產(chǎn)品應力篩選

——

工作極限溫度

工作極限溫度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16電子設備環(huán)境應力篩選

設備或系統(tǒng)

71

-54

5℃/min

10

——

——

MIL-2164A-19電子設備環(huán)境應力篩選方法

——

工作極限溫度

工作極限溫度

10℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度10℃時

NABMAT-9492美軍制造篩選

設備或系統(tǒng)

55

-53

15℃/min

10

——

駐留時間為內部達到溫度5℃時

GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選指南

組件

85

-55

15℃/min

≧25

——

達到溫度穩(wěn)定的時間

GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選指南

設備或系統(tǒng)

70

-55

5℃/min

≧10

——

達到溫度穩(wěn)定的時間

筆記本電腦

主板廠商

85

-40

15℃/min

——

——

——

技術規(guī)格:

SR(斜率可控制)[5℃~30 ℃/min]

 30℃/min→

 電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗

28℃/min→

LED汽車照明燈

25℃/min→

PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

24℃/min→

光纖連接頭

20℃/min→ 

IPC-9701 、覆晶技術的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)

11℃/min→

無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試

5℃/min→ 

錫須溫度循環(huán)試驗 

型號

 

 

SER-A

 

 

SER-B

 

 

SER-C

 

 

SER-D

 

 

內箱尺寸
W x D x H cm

 

 

40×35×35

 

 

50×50×40

 

 

60×50×50

 

 

70×60×60

 

 

外箱尺寸
W x D x H cm

 

 

140×165×165

 

 

150×200×175

 

 

160×225×185

 

 

170×260×193

 

 

預冷、預熱范圍

 

 

-00.00℃~-75.00℃/+60.00℃~+200.00℃

 

 

應力沖擊范圍

 

 

-10.00℃~-65.00℃/+60.00℃~+150.00℃

 

 

時間設定范圍

 

 

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

 

 

分辨率

 

 

0.01℃/min

 

 

溫度均勻度

 

 

±3.00℃以內(under℃3.00℃)

 

 

溫度應力變化范圍

 

+5℃~+30℃/min(+40℃)

 

 

沖擊試驗溫度

 

 

-65℃~+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃)

 

 

三箱沖擊溫度范圍

 

 

-55℃~+150℃ ±2.00℃以內(under ±2.00℃)

 



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