溫度沖擊熱應力篩選試驗箱

簡要描述：溫度沖擊熱應力篩選試驗箱對不同電子構(gòu)件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。

所屬分類：溫度沖擊應力篩選試驗箱

更新時間：2024-05-21

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

品牌	SETH/賽思	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應用領(lǐng)域	能源,電子,航天,汽車,電氣

溫度沖擊熱應力篩選試驗箱對不同電子構(gòu)件，在實際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴格測試環(huán)境，縮短測試時間，降低測試費用，但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為：Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。

溫度沖擊熱應力篩選試驗箱特點：

1、可執(zhí)行AMP（等均溫變）、三箱沖擊（TC）、兩箱沖擊（TS）、高溫儲存、低溫儲存功能；

2、可執(zhí)行慢速溫度循環(huán)[3～5℃/min]符合IEC60068-2、應力篩選ESS[5～15℃/min]符合JESD22、快速溫變[15～30℃/min](40℃/min)、冷熱沖擊四種不同設(shè)備的溫變試驗Laboratory Class；

3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求；

4、待測品自動負載調(diào)整免手動設(shè)定預冷預熱，可依據(jù)待測品負載量系統(tǒng)自動調(diào)整。

5、精靈快捷鍵人性化快速進入選單高低溫常溫沖擊；

6、超低除霜次數(shù) 高低溫常溫沖擊(3 Zoon)100Cycle免除霜，縮短試驗時間與能耗。

7、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術(shù)實現(xiàn)低溫節(jié)能運行；

9、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能；

10、感測器放置測試區(qū)出（回）風口賽思設(shè)計符合實驗有效性；

11、機臺多處報警監(jiān)測，配置無線遠程報警功能；

測試規(guī)范：

標準：滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。

產(chǎn)品&規(guī)范	廠商名稱	高溫	低溫	溫變率	循環(huán)數(shù)	循環(huán)時間	備注
MIL-STD-2164、GJB-1032-90電子產(chǎn)品應力篩選	——	工作極限溫度	工作極限溫度	5℃/min	10～12	3h20min	——
MIL-344A-4-16電子設(shè)備環(huán)境應力篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	71℃	-54℃	5℃/min	10	——	——
MIL-2164A-19電子設(shè)備環(huán)境應力篩選方法	——	工作極限溫度	工作極限溫度	10℃/min	10	——	駐留時間為內(nèi)部達到溫度10℃時
NABMAT-9492美軍*制造篩選	設(shè)備或系統(tǒng)	55℃	-53℃	15℃/min	10	——	駐留時間為內(nèi)部達到溫度5℃時
GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選指南	組件	85℃	-55℃	15℃/min	≧25	——	達到溫度穩(wěn)定的時間
GJB/Z34-5.1.6電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選指南	設(shè)備或系統(tǒng)	70℃	-55℃	5℃/min	≧10	——	達到溫度穩(wěn)定的時間
筆記本電腦	主板廠商	85℃	-40℃	15℃/min	——	——	——

斜率可控范圍：

TSR(斜率可控制)[5℃～30 ℃/min]	30℃/min→	電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗
	28℃/min→	LED汽車照明燈
	25℃/min→	PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應
	24℃/min→	光纖連接頭
	20℃/min→	IPC－9701 、覆晶技術(shù)的溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命

	17℃/min→	MOTO
	15℃/min→	IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、汽車引擎蓋下環(huán)境)
	11℃/min→	無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
	10℃/min→	通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試
	5℃/min→	錫須溫度循環(huán)試驗

技術(shù)規(guī)格：

型號	SER-A	SER-B	SER-C	SER-D
內(nèi)箱尺寸 W x D x H cm	40×35×35	50×50×40	60×50×50	70×60×60
外箱尺寸 W x D x H cm	140×165×165	150×200×175	160×225×185	170×260×193
預冷、預熱范圍	-00.00℃～-75.00℃/+60.00℃～+200.00℃
應力沖擊范圍	-10.00℃～-65.00℃/+60.00℃～+150.00℃
時間設(shè)定范圍	0 hour 1 min ～ 9999 hour 59 min/segment
分辨率	0.01℃/min
溫度均勻度	±3.00℃以內(nèi)（under℃3.00℃）
溫度應力變化范圍	+5℃～+30℃/min(+40℃)
沖擊試驗溫度	-65℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃)
三箱沖擊溫度范圍	-55℃～+150℃ ±2.00℃以內(nèi)(under ±2.00℃)